超声波传感器的制造过程中检测阻抗特性可以确认探头的状态与进行质量控制。然而当探头与电路板对接后，阻抗分析仪数据为"探头"与"前端电路"复合的结果，无法使用压电模型进行匹配得到探头的特性。因此希望能够建立一个匹配模型，输入“复合阻抗资料〃和"电路板上组件参数”，经过匹配计算后，能够输出探头的特性，包含 Fs, Fc, Fp, CO, Ri, LI, Cl 和 Qm 数值。
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