电镜三维断层扫瞄显像技术
交易价格:
面议
所属行业:
纳米及超细材料
类型:
非专利
技术成熟度:
正在研发
交易方式:
技术转让
国家:中国
是否金砖国家:是
发布时间:2019-10-14
联系人:
林鑫
进入空间
等级:
所在地:福建厦门市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
技术简介:
包含TEM断层扫描与SEM/FIB断层扫描,可应用于产生特征尺寸约在10奈米 ~ 10微米范围间之样品的三维结构影像模型。技术规格:
断层扫描取像特征尺寸: 10 nm ~ 10 μm技术特色:
微/奈米尺度之三维分析应用范围:
材料微结构/微化学分析、半导体元件结构分析