[00944485]磁头飞行姿态测量仪
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技术详细介绍
该仪器适用于磁盘系统中磁头的运动姿态和头盘间隙的测量。它采用多普勒原理，利用磁头和盘片表面的散射光进行测量；结构上采用对称的准共光路光学系统和稳定的机械结构设计。该仪器的四光束双焦点面内姿态测试系统，较国内外的激光测试系统在设计方案上有突破性的进展，实现了对于多普勒激光测量信号进行相位细分，其分辨率较常规的测速仪高１００倍。该仪器还可用于其他机械振动、变形和微小位移的测量，可给出两个平移自由度和两个转动自由度的数值。