[00769202]1.3微米半导体激光器超高速电光采样技术
联系人：
所在地：
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
登录后向技术服务商咨询
发布技术需求
服务免费，交易还可领红包哦
技术详细介绍
电光采样测试装置是光学平台上的实验研究系统，对外提供测量服务，并为“八五”期间实现电光采样仪器化奠定了技术基础。该装置主要技术指标如下：电压灵敏度０．２６ｍＶ／根号下Ｈｚ，时间分辨率典型值为１１．３ｐｓ，工作频率在１～５ＧＨｚ范围内连续可调。该装置已达到８０年代美国贝尔实验室的水平。可用于高速探测器或电子器件的脉冲响应和频率特性的测量，还可代替价格昂贵的进口采样示波器和微波频谱仪。在高速ＧａＡｓ、ＩｎＰ集成电路芯片的研制和生产过程中，需对芯片内部的某些关键部位上的动态特性进行无触点检测，以查明是否达到设计要求，该测量装置正可用于这一测量目的。