[00334846]阻性传感器阵列测量装置及方法
交易价格:
面议
所属行业:
检测仪器
类型:
发明专利
技术成熟度:
通过小试
专利所属地:中国
专利号:CN201710048637.1
交易方式:
资料待完善
联系人:
东南大学
进入空间
所在地:江苏南京市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要:本发明公开了一种阻性传感器阵列测量装置,所述阻性传感器阵列为共用行线和列线的阻性传感器阵列;该测量装置包括标准电阻行,其包括一行N个标准电阻,被增设于阻性传感器阵列中,从而得到一个新的共用行线和列线的(M+1)×N电阻阵列;(M+1)个运算放大器,与电阻阵列的(M+1)条行线一一对应,各运算放大器的反相输入端、输出端分别通过一根连接线与其所对应行线连接;控制器,其具有至少(M+1)个IO端口以及至少N个ADC采样端口,其中的(M+1)个IO端口与(M+1)个运算放大器的同相输入端一一对应连接,其中的N个ADC采样端口与新的电阻阵列的N条列线一一对应连接。本发明公开了一种阻性传感器阵列测量方法。本发明具有更高测量精度和更大测量量程。
摘要:本发明公开了一种阻性传感器阵列测量装置,所述阻性传感器阵列为共用行线和列线的阻性传感器阵列;该测量装置包括标准电阻行,其包括一行N个标准电阻,被增设于阻性传感器阵列中,从而得到一个新的共用行线和列线的(M+1)×N电阻阵列;(M+1)个运算放大器,与电阻阵列的(M+1)条行线一一对应,各运算放大器的反相输入端、输出端分别通过一根连接线与其所对应行线连接;控制器,其具有至少(M+1)个IO端口以及至少N个ADC采样端口,其中的(M+1)个IO端口与(M+1)个运算放大器的同相输入端一一对应连接,其中的N个ADC采样端口与新的电阻阵列的N条列线一一对应连接。本发明公开了一种阻性传感器阵列测量方法。本发明具有更高测量精度和更大测量量程。