[00331832]一种中铝瓷球表面缺陷检测方法
交易价格：
面议
所属行业：
分析仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
通过小试
专利所属地：中国
专利号：CN201611180223.6
交易方式：
资料待完善
联系人：
福州大学
进入空间
所在地：福建福州市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：本发明涉及一种中铝瓷球表面缺陷检测方法采集中铝瓷球表面的光学图像；对所述光学图像进行灰度变换；构造线性平滑滤波器对所述二值图像进行滤波，除去高频成分和锐化细节；采用高反差保留算法对滤波图像进行增强；采用阈值边缘描述法对滤波图像进行首次图像分割获得初步的中铝瓷球表面的缺陷信息；以面积为特征进行统计分类，并进行筛选；对筛选出的区域进行膨胀、合并为域，将区域单独分割；将上步得到的局部初始图像再次进行线性平滑运算，利用动态阈值法进行图像精准分割，得到精准的中铝瓷球表面的缺陷信息；进行面积统计，计算其像素点，若像素点大于0，则判定对应中铝瓷球不合格。本发明提高了检测准确性与自动化程度，提升了检测效率。
摘要：本发明涉及一种中铝瓷球表面缺陷检测方法采集中铝瓷球表面的光学图像；对所述光学图像进行灰度变换；构造线性平滑滤波器对所述二值图像进行滤波，除去高频成分和锐化细节；采用高反差保留算法对滤波图像进行增强；采用阈值边缘描述法对滤波图像进行首次图像分割获得初步的中铝瓷球表面的缺陷信息；以面积为特征进行统计分类，并进行筛选；对筛选出的区域进行膨胀、合并为域，将区域单独分割；将上步得到的局部初始图像再次进行线性平滑运算，利用动态阈值法进行图像精准分割，得到精准的中铝瓷球表面的缺陷信息；进行面积统计，计算其像素点，若像素点大于0，则判定对应中铝瓷球不合格。本发明提高了检测准确性与自动化程度，提升了检测效率。
