[00281385]一种基于改进型马赫曾德干涉仪测定涡旋光束拓扑电荷数的方法
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面议
所属行业：
其他电子信息
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201410141180.5
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
昆明理工大学
进入空间
所在地：云南昆明市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本发明涉及一种基于改进型马赫曾德干涉仪测定涡旋光束拓扑电荷数的装置及方法，属于数字全息技术领域。本发明装置包括半导体激光器、显微物镜空间滤波器、准直透镜、分光棱镜Ⅰ、平面反射镜、分光棱镜Ⅱ、空间光调制器、分光棱镜Ⅲ、分光棱镜Ⅳ以及光电耦合器件。本发明方法利用装置的一臂生成涡旋光束作为物光，另一臂作为参考光，利用全息干涉原理将涡旋光束的波前相位信息以干涉条纹的形式记录下来，后期数字重构出其相位分布，根据涡旋光束的定义即可根据其重构出的相位分布获取其拓扑电荷数。本发明解决了当前测定涡旋光束的拓扑电荷数方法需要特定仪器或设备，或现有测定方法操作复杂，稳定性差，可靠性低的问题。
本发明涉及一种基于改进型马赫曾德干涉仪测定涡旋光束拓扑电荷数的装置及方法，属于数字全息技术领域。本发明装置包括半导体激光器、显微物镜空间滤波器、准直透镜、分光棱镜Ⅰ、平面反射镜、分光棱镜Ⅱ、空间光调制器、分光棱镜Ⅲ、分光棱镜Ⅳ以及光电耦合器件。本发明方法利用装置的一臂生成涡旋光束作为物光，另一臂作为参考光，利用全息干涉原理将涡旋光束的波前相位信息以干涉条纹的形式记录下来，后期数字重构出其相位分布，根据涡旋光束的定义即可根据其重构出的相位分布获取其拓扑电荷数。本发明解决了当前测定涡旋光束的拓扑电荷数方法需要特定仪器或设备，或现有测定方法操作复杂，稳定性差，可靠性低的问题。
