[00277896]一种采用超声脉冲反射水浸测量TC4激光快速成形与锻造TC4超声衰减差异方法
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201610145153.4
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
南昌航空大学
进入空间
所在地：江西南昌市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：本发明公开了一种采用超声脉冲反射水浸测量TC4激光快速成形与锻造TC4超声衰减差异方法，用来指导激光快速成形件超声检测工艺和标准制订，其特征在于：借助等尺寸相同尤其是厚度相同圆形试块，超声入射和反射面的表面粗糙度优于2µm，采用超声脉冲发射和接收仪器，500MHz数据采样卡，采集三次以上超声脉冲回波高度，利用公式α=[20lg(Bm/Bn)‑ҕ]/[2(n‑m)x]计算超声纵波衰减系数。本发明所述接收仪器采用奥林巴斯5077超声发射接收仪器，采用数字示波器采样并存储采样波形，采样频率不低于500MHz，垂直线性和水平线性满足GJB1580A要求。
摘要：本发明公开了一种采用超声脉冲反射水浸测量TC4激光快速成形与锻造TC4超声衰减差异方法，用来指导激光快速成形件超声检测工艺和标准制订，其特征在于：借助等尺寸相同尤其是厚度相同圆形试块，超声入射和反射面的表面粗糙度优于2µm，采用超声脉冲发射和接收仪器，500MHz数据采样卡，采集三次以上超声脉冲回波高度，利用公式α=[20lg(Bm/Bn)‑ҕ]/[2(n‑m)x]计算超声纵波衰减系数。本发明所述接收仪器采用奥林巴斯5077超声发射接收仪器，采用数字示波器采样并存储采样波形，采样频率不低于500MHz，垂直线性和水平线性满足GJB1580A要求。
