[00277800]基于平行束投影数据滤波反投影重建的平板探测器点扩展函数的模型和测量方法
交易价格：
面议
所属行业：
分析仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201610144533.6
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
南昌航空大学
进入空间
所在地：江西南昌市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：一种基于平行束投影数据滤波反投影重建的平板探测器点扩展函数的模型和测量方法，主要步骤如下：设计制作阶梯试块；保证射线源中心与阶梯试块中心阶梯边缘对中；以5°为间隔分别透照0°~180°旋转角度的台阶试块，获得相应角度下的边扩展分布图像；对每个角度下的边扩展曲线进行拟合并对拟合函数做微分运算处理，进而获得线扩展的拟合线扩展函数；将各个角度下的线扩展函数曲线组成投影正弦图，采用滤波反投影算法重建点扩展分布。本发明的优点是：本发明相对其他方法，测试试块的要求降低许多，采用计算机算法降低试样加工材料和加工精度要求，测量精确，信噪比高，特别适合射线数字成像教学实验。
摘要：一种基于平行束投影数据滤波反投影重建的平板探测器点扩展函数的模型和测量方法，主要步骤如下：设计制作阶梯试块；保证射线源中心与阶梯试块中心阶梯边缘对中；以5°为间隔分别透照0°~180°旋转角度的台阶试块，获得相应角度下的边扩展分布图像；对每个角度下的边扩展曲线进行拟合并对拟合函数做微分运算处理，进而获得线扩展的拟合线扩展函数；将各个角度下的线扩展函数曲线组成投影正弦图，采用滤波反投影算法重建点扩展分布。本发明的优点是：本发明相对其他方法，测试试块的要求降低许多，采用计算机算法降低试样加工材料和加工精度要求，测量精确，信噪比高，特别适合射线数字成像教学实验。
