[00275849]一种介电超晶格材料周期测量仪及其使用方法
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201310680682.0
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
南京大学
进入空间
所在地：江苏南京市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本发明公开了一种介电超晶格材料周期测量仪，包括激光光源、屏幕和刻度装置，待测介电超晶格材料放置于激光光源和刻度装置之间，所述激光光源垂直于待测介电超晶格材料表面，所述屏幕平行于待测介电超晶格材料表面，所述刻度装置置于屏幕上。本发明采用光栅衍射原理，使用激光对介电体超晶格材料表面照射，通过检测透过的衍射点来判定材料周期。本发明装置简单，操作方便快捷，且准确度高。
本发明公开了一种介电超晶格材料周期测量仪，包括激光光源、屏幕和刻度装置，待测介电超晶格材料放置于激光光源和刻度装置之间，所述激光光源垂直于待测介电超晶格材料表面，所述屏幕平行于待测介电超晶格材料表面，所述刻度装置置于屏幕上。本发明采用光栅衍射原理，使用激光对介电体超晶格材料表面照射，通过检测透过的衍射点来判定材料周期。本发明装置简单，操作方便快捷，且准确度高。
