[00274438]一种显微CT扫描土体空间孔隙结构的精细化表征方法
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201610228499.0
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
南京大学
进入空间
所在地：江苏南京市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
一种砂土空间孔隙的精细化表征方法，1)图像的三维二值矩阵表征，一幅显微CT二值数字图像由m×n个像素点所组成，每个像素点的取值为0或1，则该二值数字图像本质上对应于一个二维的二值(0‑1)矩阵，矩阵中每一个元素与图像中每一个像素点相对应，矩阵元素取值为0代表该元素所对应像素为孔隙；取值为1代表该元素所对应像素为颗粒；2)体积孔隙率及空间孔隙分布计算，通过分析断层图像序列，计算出试样的体积孔隙率及表观孔隙率分布。3)空间任意切面的提取，首先根据切面始末两端的位置以及范围，确定出REV三维二值矩阵的始末行、列，并将其作为切面二值矩阵的首、尾行向量；再根据切面的方向，依次确定切面二值矩阵中的其他行向量。
一种砂土空间孔隙的精细化表征方法，1)图像的三维二值矩阵表征，一幅显微CT二值数字图像由m×n个像素点所组成，每个像素点的取值为0或1，则该二值数字图像本质上对应于一个二维的二值(0‑1)矩阵，矩阵中每一个元素与图像中每一个像素点相对应，矩阵元素取值为0代表该元素所对应像素为孔隙；取值为1代表该元素所对应像素为颗粒；2)体积孔隙率及空间孔隙分布计算，通过分析断层图像序列，计算出试样的体积孔隙率及表观孔隙率分布。3)空间任意切面的提取，首先根据切面始末两端的位置以及范围，确定出REV三维二值矩阵的始末行、列，并将其作为切面二值矩阵的首、尾行向量；再根据切面的方向，依次确定切面二值矩阵中的其他行向量。
