[00268150]一种基于SPR的检测系统及其检测方法
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201210406085.4
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
深圳大学
进入空间
所在地：广东深圳市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：本发明属于光电检测技术领域，提供了一种基于SPR的检测系统及其检测方法。该系统及方法将光谱扫描技术与角度检测技术或相位检测技术相结合，在利用角度检测技术或相位检测技术获得SPR共振角后，将阵列光源中对应位置的点光源点亮而将其它位置的点光源关闭，之后利用光谱扫描技术对点亮的点光源进行光谱扫描，获得最佳线性区的光谱位置，将该光谱位置的对应波长设置为光谱滤波器工作波长。该系统及方法通过光谱对SPR共振位置的改变，实现小角度高精度的连续扫描，充分利用了光源的谱宽，可避免阵列光源中密集的点光源排列和光源光谱的利用率低，有效解决阵列光源中点的密集程度与扫描角度之间的矛盾，因而可降低产品成本、简化工艺。
摘要：本发明属于光电检测技术领域，提供了一种基于SPR的检测系统及其检测方法。该系统及方法将光谱扫描技术与角度检测技术或相位检测技术相结合，在利用角度检测技术或相位检测技术获得SPR共振角后，将阵列光源中对应位置的点光源点亮而将其它位置的点光源关闭，之后利用光谱扫描技术对点亮的点光源进行光谱扫描，获得最佳线性区的光谱位置，将该光谱位置的对应波长设置为光谱滤波器工作波长。该系统及方法通过光谱对SPR共振位置的改变，实现小角度高精度的连续扫描，充分利用了光源的谱宽，可避免阵列光源中密集的点光源排列和光源光谱的利用率低，有效解决阵列光源中点的密集程度与扫描角度之间的矛盾，因而可降低产品成本、简化工艺。
