[00262271]一种纳米成像技术测量样品的导热系数的方法
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201710149127.3
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
武汉科技大学
进入空间
所在地：湖北武汉市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：本发明涉及一种纳米成像技术测量样品的导热系数的方法，方法包括STEP1利用红外光脉冲加热样品；STEP2原子力显微镜(AFM)记录样品的形变，并绘制出地形图；STEP3根据样品的形变得到热膨胀函数；STEP4与分析软件中存储的对照物热膨胀函数进行对照，确定待测样品对应系统中的已有对照物信息；STEP5查看对照物的导热系数。本发明的有益效果是不仅可以得到待测物的热膨胀率，同时得到相互关联的导热系数，功能齐全，使用简单。
摘要：本发明涉及一种纳米成像技术测量样品的导热系数的方法，方法包括STEP1利用红外光脉冲加热样品；STEP2原子力显微镜(AFM)记录样品的形变，并绘制出地形图；STEP3根据样品的形变得到热膨胀函数；STEP4与分析软件中存储的对照物热膨胀函数进行对照，确定待测样品对应系统中的已有对照物信息；STEP5查看对照物的导热系数。本发明的有益效果是不仅可以得到待测物的热膨胀率，同时得到相互关联的导热系数，功能齐全，使用简单。
