[00230736]一种基于双端探测器的晶体分辨图计算方法和装置
交易价格：
面议
所属行业：
分析仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201510976434.X
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
中国科学院深圳先进技术研究院
进入空间
所在地：广东深圳市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本发明属于医疗设备技术领域，提供了一种基于双端探测器的晶体分辨图计算方法和装置。所述方法包括：根据预设能量阈值，去除双端探测器采集到的所有事件信息中低于所述预设能量阈值的事件信息；获取去除低于所述预设能量阈值的事件信息后的所述双端探测器的单端晶体位置坐标；根据所述双端探测器的单端晶体位置坐标，计算所述双端探测器的双端晶体位置坐标，以获得所述双端探测器的晶体分辨图。通过本发明提高了晶体分辨图计算方法的可靠性，更好地表征了双端探测器的空间分辨性能。
本发明属于医疗设备技术领域，提供了一种基于双端探测器的晶体分辨图计算方法和装置。所述方法包括：根据预设能量阈值，去除双端探测器采集到的所有事件信息中低于所述预设能量阈值的事件信息；获取去除低于所述预设能量阈值的事件信息后的所述双端探测器的单端晶体位置坐标；根据所述双端探测器的单端晶体位置坐标，计算所述双端探测器的双端晶体位置坐标，以获得所述双端探测器的晶体分辨图。通过本发明提高了晶体分辨图计算方法的可靠性，更好地表征了双端探测器的空间分辨性能。
