[00230200]时域积分抽样方法及抽样电路
交易价格：
面议
所属行业：
电子元器件
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201310442753.3
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
中国科学院深圳先进技术研究院
进入空间
所在地：广东深圳市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本发明涉及信号采集技术领域，具体涉及一种实现AIC的时域积分抽样方法及抽样电路。本发明的时域积分抽样方法的采样周期是随机的，这样随机的采样时间为满足压缩采样理论中的受限等距特征准则提供了随机性，无需构建测量矩阵，降低了硬件实现难度；本发明的抽样方法能够实现异步变频采样、且无量化误差，具有一定的自适应性，大大减少采样数据。
本发明涉及信号采集技术领域，具体涉及一种实现AIC的时域积分抽样方法及抽样电路。本发明的时域积分抽样方法的采样周期是随机的，这样随机的采样时间为满足压缩采样理论中的受限等距特征准则提供了随机性，无需构建测量矩阵，降低了硬件实现难度；本发明的抽样方法能够实现异步变频采样、且无量化误差，具有一定的自适应性，大大减少采样数据。
