[01588623]基于单帧调制模板的深度信息测量方法
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所属行业:
其他电子信息
类型:
非专利
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技术详细介绍
本发明公开了一种基于单帧调制模板的深度信息测量方法,主要解决现有技术耗时过长、无法动态测量场景深度信息的问题。其实现方案为:设计单帧调制模板P;将P投射到目标,获得变形图像I;将I传输至计算机,解调得到解调余弦模板I′1及解调De-Bruijn序列模板I′2;用Gabor滤波器计算I′1截断相位求解相位展开值Φ(x,y);根据Φ(x,y)求取像素点(x,y)在P中的匹配点(xp,yp);利用(x,y)与(xp,yp)的空间几何关系,计算深度信息值。本发明可动态获取场景深度信息且具备较高的精度,可用于工业监控、人机交互、虚拟现实及3D打印场景。
本发明公开了一种基于单帧调制模板的深度信息测量方法,主要解决现有技术耗时过长、无法动态测量场景深度信息的问题。其实现方案为:设计单帧调制模板P;将P投射到目标,获得变形图像I;将I传输至计算机,解调得到解调余弦模板I′1及解调De-Bruijn序列模板I′2;用Gabor滤波器计算I′1截断相位求解相位展开值Φ(x,y);根据Φ(x,y)求取像素点(x,y)在P中的匹配点(xp,yp);利用(x,y)与(xp,yp)的空间几何关系,计算深度信息值。本发明可动态获取场景深度信息且具备较高的精度,可用于工业监控、人机交互、虚拟现实及3D打印场景。