[01367340]一种基于二维微波成像的低散射共形天线RCS测试方法
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技术详细介绍
本发明涉及一种基于二维微波成像的低散射共形天线RCS测试方法,其特征在于步骤如下：对装机状态下的金属蒙皮及共形天线进行RCS测试,得到二维微波像;对新的二维微波像进行二维傅立叶变换,得到目标谱域的数据;对一个RCS已知的金属球进行RCS测试,得到二维微波像对二维微波像进行二维傅立叶变换,得到金属球的散射场随频率和角度变化的数据G0（f,θ）,最终可得：共形天线的RCS＝共形天线数据G1（f,θ）-金属球数据G0（f,θ）+金属球RCS。本发明提出的方法,基于二维微波成像技术获取装机状态下共形天线的RCS测试方法,经过实践,所得的效果良好,具有极大的工程推广价值。