[00134485]微型拉伸测量组件及其制作方法
交易价格：
面议
所属行业：
电子元器件
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：201110258039.X
交易方式：
技术转让
联系人：
中科院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
进入空间
所在地：江苏苏州市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本发明公开了一种微型拉伸测量组件及其制作方法。该测量组件包括相互配合的固定平台和移动平台，固定平台一端固定连接第一样品平台，移动平台一端经弹性元件连接一第二样品平台，在测量时样品两端分别与该第一、第二样品平台连接，该第二样品平台上还设有与设于第一样品平台上的第一对中标记配合的第二对中标记和位移标记；其制作方法为：取不锈钢基片进行光刻、图形化处理后，之后进行高温烘烤和电化学刻蚀，即可得到目标产品。本发明器件结构简单牢固，不易损坏，工艺简便易操作，克服了当前微电铸工艺需采用厚胶工艺及微结构平坦化技术的问题，以及避免了因微电铸缺陷引起力学传感器性能下降的问题，提高了器件对准精度，同时降低了制作成本。
本发明公开了一种微型拉伸测量组件及其制作方法。该测量组件包括相互配合的固定平台和移动平台，固定平台一端固定连接第一样品平台，移动平台一端经弹性元件连接一第二样品平台，在测量时样品两端分别与该第一、第二样品平台连接，该第二样品平台上还设有与设于第一样品平台上的第一对中标记配合的第二对中标记和位移标记；其制作方法为：取不锈钢基片进行光刻、图形化处理后，之后进行高温烘烤和电化学刻蚀，即可得到目标产品。本发明器件结构简单牢固，不易损坏，工艺简便易操作，克服了当前微电铸工艺需采用厚胶工艺及微结构平坦化技术的问题，以及避免了因微电铸缺陷引起力学传感器性能下降的问题，提高了器件对准精度，同时降低了制作成本。
