[00134483]超快电子器件测试系统及方法
交易价格：
面议
所属行业：
电子元器件
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：201110269306.3
交易方式：
技术转让
联系人：
中科院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
进入空间
所在地：江苏苏州市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本发明公开了一种超快电子器件响应测试系统及方法。该系统包括飞秒脉冲激光器、飞秒脉冲延时系统、电脉冲产生模块、电脉冲探测模块及数据采集校正系统；该方法为：利用光学延时系统将光束分成有一定延时的两束飞秒脉冲光。其中一束激光聚集在高速光电二极管，光电二极管的光电效应产生的短电脉冲对高速电子器件进行电流或电场的输入，将另一束飞秒脉冲光聚焦到连接在超快电子器件的输出电路上的微小电光晶体上，利用光电探测器对从微小电光晶体中反射或透射的脉冲光强进行测试。通过改变两束光的延时对超快电子器件进行时序测量。本发明可有效解决超快电子器件的时序响应的测试问题。
本发明公开了一种超快电子器件响应测试系统及方法。该系统包括飞秒脉冲激光器、飞秒脉冲延时系统、电脉冲产生模块、电脉冲探测模块及数据采集校正系统；该方法为：利用光学延时系统将光束分成有一定延时的两束飞秒脉冲光。其中一束激光聚集在高速光电二极管，光电二极管的光电效应产生的短电脉冲对高速电子器件进行电流或电场的输入，将另一束飞秒脉冲光聚焦到连接在超快电子器件的输出电路上的微小电光晶体上，利用光电探测器对从微小电光晶体中反射或透射的脉冲光强进行测试。通过改变两束光的延时对超快电子器件进行时序测量。本发明可有效解决超快电子器件的时序响应的测试问题。
