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[01273038]基于三维成像的RCS测量关键技术研究

交易价格: 面议

所属行业: 其他电子信息

类型: 非专利

交易方式: 资料待完善

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技术详细介绍

为了满足日益增长的目标遥感、识别、侦察与反侦察的应用需求,目标雷达散射截面(RCS)测量方法的研究逐渐成为热点之一。

但是,传统的RCS测量技术存在成本高、环境影响大或者目标大小受限等问题。

基于微波三维成像的RCS测量技术在解决以上问题时有巨大的优势。

本文针对复杂环境下高精度RCS测量需求,研究了基于线阵三维成像的RCS测量新技术,主要研究内容包括:研究了基于线阵三维成像的RCS测量模型,提出了基于改进BP算子三维SAR成像的RCS测量技术,为探索复杂散射环境RCS精确测量新方法奠定基础;

研究了适用于大观测角的自适应RCS测量方法,提出了基于子阵列认知成像的目标RCS测量技术,降低了相位逆转现象对于RCS测量的影响,提高了大观测角下RCS测量精度;

研究了基于散射中心提取的旁瓣改善方法,提出了基于散射中心提取和压缩感知的三维旁瓣去除RCS测量方法,降低了成像旁瓣对RCS测量精度的影响。

本项目的研究成果为RCS测量技术的发展提供理论基础和技术支持。

本项目取得的成果情况具体阐述如下:

1)在国内外学术期刊上发表相关论文10篇,其中被SCI检索2篇、EI检索2篇、中文核心论文5篇。

2)在国内外学术会议上发表相关论文5篇,其中被EI检索5篇。

3)申请相关国家专利14项。

4)参加相关国内、国际会议5次。

5)获得相关软件著作权3项,包括基于线阵三维成像的 RCS 测量算法程序与仿真程序。

6)培养博士后1名。

7)独立培养硕士研究生1人,联合指导博士研究生1人。

为了满足日益增长的目标遥感、识别、侦察与反侦察的应用需求,目标雷达散射截面(RCS)测量方法的研究逐渐成为热点之一。

但是,传统的RCS测量技术存在成本高、环境影响大或者目标大小受限等问题。

基于微波三维成像的RCS测量技术在解决以上问题时有巨大的优势。

本文针对复杂环境下高精度RCS测量需求,研究了基于线阵三维成像的RCS测量新技术,主要研究内容包括:研究了基于线阵三维成像的RCS测量模型,提出了基于改进BP算子三维SAR成像的RCS测量技术,为探索复杂散射环境RCS精确测量新方法奠定基础;

研究了适用于大观测角的自适应RCS测量方法,提出了基于子阵列认知成像的目标RCS测量技术,降低了相位逆转现象对于RCS测量的影响,提高了大观测角下RCS测量精度;

研究了基于散射中心提取的旁瓣改善方法,提出了基于散射中心提取和压缩感知的三维旁瓣去除RCS测量方法,降低了成像旁瓣对RCS测量精度的影响。

本项目的研究成果为RCS测量技术的发展提供理论基础和技术支持。

本项目取得的成果情况具体阐述如下:

1)在国内外学术期刊上发表相关论文10篇,其中被SCI检索2篇、EI检索2篇、中文核心论文5篇。

2)在国内外学术会议上发表相关论文5篇,其中被EI检索5篇。

3)申请相关国家专利14项。

4)参加相关国内、国际会议5次。

5)获得相关软件著作权3项,包括基于线阵三维成像的 RCS 测量算法程序与仿真程序。

6)培养博士后1名。

7)独立培养硕士研究生1人,联合指导博士研究生1人。

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