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[01228078]基于双光源合成波长剪切散斑干涉技术的三维变形测量

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 非专利

交易方式: 资料待完善

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技术详细介绍

高精度、方便、经济的三维变形测量方法,特别是可用于工程现场的测量方法和设备是工业界加工控制和质量检测等方面的迫切需求,在机械制造、航海航空航天、逆向设计、材料工程结构测试等领域有广泛的应用前景。基于剪切散斑干涉测量原理,本项目从以下3个方面研究稳定可靠适于工程环境的三维变形测量系统:(1)设计基于剪切散斑干涉技术的合成等效波长双光源新型测量光路,同步准确得到描述物体三维变形的面内位移和离面位移;(2)研究合成等效波长的新光源,有效扩大测量范围、降低干涉条纹的密集程度、得到对比度较好的干涉条纹图、解决深变形测量等问题;(3)研究图像信息处理软件系统,主要包括图像操作模块、相位提取模块和位移计算模块,研究每个模块的新算法。经过相位提取、滤波、解包裹等一系列剪切散斑条纹相位信息提取和处理后,快速精确得到相位的连续分布图,显示被测物体三维变形情况。通过本项目研究,解决三维变形测量中存在的精度低、抗干扰性差等问题。实现高精度非接触式、无需防震措施、实用简单的三维变形测量,为物体三维变形测量提供一种适用于工程环境下的光学新方法。
高精度、方便、经济的三维变形测量方法,特别是可用于工程现场的测量方法和设备是工业界加工控制和质量检测等方面的迫切需求,在机械制造、航海航空航天、逆向设计、材料工程结构测试等领域有广泛的应用前景。基于剪切散斑干涉测量原理,本项目从以下3个方面研究稳定可靠适于工程环境的三维变形测量系统:(1)设计基于剪切散斑干涉技术的合成等效波长双光源新型测量光路,同步准确得到描述物体三维变形的面内位移和离面位移;(2)研究合成等效波长的新光源,有效扩大测量范围、降低干涉条纹的密集程度、得到对比度较好的干涉条纹图、解决深变形测量等问题;(3)研究图像信息处理软件系统,主要包括图像操作模块、相位提取模块和位移计算模块,研究每个模块的新算法。经过相位提取、滤波、解包裹等一系列剪切散斑条纹相位信息提取和处理后,快速精确得到相位的连续分布图,显示被测物体三维变形情况。通过本项目研究,解决三维变形测量中存在的精度低、抗干扰性差等问题。实现高精度非接触式、无需防震措施、实用简单的三维变形测量,为物体三维变形测量提供一种适用于工程环境下的光学新方法。

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