[00110558]低温等离子体原子发射光谱测定微量汞的装置及方法
交易价格：
面议
所属行业：
类型：
专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：200810011420.4
交易方式：
技术转让
联系人：
东北大学
进入空间
所在地：辽宁沈阳市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
一种低温等离子体原子发射光谱测定微量汞的装置及方法,属于分析检测技术领域,包括以下步骤:(1)选取汞的检测波长与背景校正波长;(2)绘制汞标准工作曲线;(3)测定待测溶液的汞含量;低温等离子体原子发射光谱测定微量汞的方法所采用的装置,包括蒸气发生进样系统、低温等离子体发生室、高频高压电源 和光谱仪。本发明的有益效果是:介质阻挡放电的低温等离子体激发光源,无高温环境存在,大大降低了能耗,并使其供能系统简单,造价低廉且日常运行消耗很低。
一种低温等离子体原子发射光谱测定微量汞的装置及方法,属于分析检测技术领域,包括以下步骤:(1)选取汞的检测波长与背景校正波长;(2)绘制汞标准工作曲线;(3)测定待测溶液的汞含量;低温等离子体原子发射光谱测定微量汞的方法所采用的装置,包括蒸气发生进样系统、低温等离子体发生室、高频高压电源 和光谱仪。本发明的有益效果是:介质阻挡放电的低温等离子体激发光源,无高温环境存在,大大降低了能耗,并使其供能系统简单,造价低廉且日常运行消耗很低。
